利拓儀器生產(chǎn)的環(huán)境試驗箱溫度濕度鹽霧試驗機震動三綜合試驗機的用途是與恰當(dāng)?shù)恼駝釉囼炁_相配合，滿足各種相應(yīng)的溫度，濕度鹽霧試驗機，振動三綜合試驗要求東莞高低溫試驗箱。該產(chǎn)品在航空，航天，船舶，電子，通訊等領(lǐng)域有廣泛的用途。

它將實驗室與制冷系統(tǒng)整體組合式結(jié)構(gòu)，緊湊美觀，控制臺單獨設(shè)計，便于操作。

可根據(jù)用戶要求選配不同的振動臺，保證冷，熱，氣，密封的同時，振動臺具有良好的理學(xué)震動特性。

利拓儀器除了研發(fā)環(huán)境試驗箱之外還研發(fā)了各種各類的試驗檢測儀器，如果有想了解更多利拓環(huán)境檢測儀器的或想購買其他檢測儀器的朋友歡迎來電咨詢！  

利拓儀器生產(chǎn)的環(huán)境試驗箱高溫烤箱它外表采用了SECC鋼板，里面采用了SUS不銹鋼，全新耐高溫長軸心馬達，超高溫保護恒溫恒濕試驗箱生產(chǎn)廠家，超負載自動斷電系統(tǒng)，加熱方式為PlD+S.S.R。

濕度鹽霧試驗機范圍：室溫+20到260度（300度）

該測試系統(tǒng)精度、自動化程度較高，可提多種樣品實驗條件，適合制造廠家、研究機構(gòu)、質(zhì)檢單位等使用。

除此之外利拓儀器研發(fā)了各種各類的環(huán)境試驗箱，如果有想了解更多利拓環(huán)境試驗箱的或想購買其他檢測儀器的朋友歡迎來電咨詢！

利拓儀器生產(chǎn)的環(huán)境試驗箱 氙燈耐候試驗箱模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗通過材料試樣暴露在氙弧燈的光照及熱輻射下進行老化試驗，來評價在高溫光源作用下某些材料的耐候性能主要用于汽車、涂料、橡膠、塑膠、廈料、粘合劑、織物、航空航天、艦艇船舶、電子行業(yè)、包裝行業(yè)等。

本氙燈耐氣候試驗箱可用于新材料的選擇、改變現(xiàn)有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗，可以很好的模擬在不同環(huán)境條件下，材料暴露在陽光下所發(fā)生的變化。

利拓儀器除了生產(chǎn)環(huán)境試驗箱還生產(chǎn)各種各樣的測試儀器，如有想了解更多環(huán)境試驗箱或想購買試驗機的朋友歡迎來電咨詢！

利拓儀器生產(chǎn)的環(huán)境試驗箱HAST高壓加速老化實驗箱產(chǎn)品結(jié)構(gòu)是用整體式組合結(jié)構(gòu)形式，試驗箱由位于前部的保溫箱體(承壓結(jié)構(gòu))、位于后部的制冷、真空機組和位于試驗箱大門上的電器控制器(系統(tǒng))組成。

電器控制面板置于試驗箱的正面大門上便于運行操作。

制冷機組及真空機組置于獨立的機箱內(nèi)，以減少制冷機組運行時的震動，噪聲對試驗箱的影響，同時便于設(shè)備的安裝和維護。

利拓儀器檢測儀器生產(chǎn)研發(fā)試驗設(shè)備已經(jīng)十多年了建立了一批技術(shù)高超，服務(wù)周到的售后服務(wù)隊伍。

如有想了解更多利拓環(huán)境試驗箱或想購買其他檢測儀器的朋友歡迎來電咨詢！

臭氧老化試驗箱

耐臭氧試驗機測試原理：

在靜態(tài)拉伸或連續(xù)的動態(tài)拉伸變形下，或在間斷的動態(tài)拉伸與靜態(tài)拉伸交替的變形下，暴露于密閉無光照的含有恒定臭氧濃度的空氣和恒溫的試驗箱中，按預(yù)定時間對試樣進行檢測，從試樣表面發(fā)生的龜裂或其它性能的變化程度，以評定橡膠的耐臭氧老化性能。

耐臭氧試驗機參照標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB/T 2951.21-2008 idt IEC 60811-2-1:2001 電纜和光纜絕緣和護套材料通用試驗方法 第21部分：彈性體混合料試驗方法 耐臭氧試驗 熱延伸試驗 浸礦物油試驗

2. GB/T 7762-2003 硫化橡膠或熱塑性橡膠 耐臭氧龜裂 靜態(tài)拉伸試驗方法

3. GB/T 13642-1992 硫化橡膠耐臭氧老化試驗 動態(tài)拉伸試驗法

4. GJB1217A-2009 電連接器試驗方法

5. ISO 1431-1-2004 硫化或熱塑性橡膠.耐臭氧龜裂性--部分：靜態(tài)應(yīng)變試驗

6. ASTM D 1149-2007 橡膠變質(zhì)試驗.在小室中橡膠表面臭氧龜裂

7. JIS K 6259-2004 硫化橡膠和熱塑性橡膠 耐臭氧性能測定

10000L步入式恒溫恒濕試驗箱廣泛用于材料、電工、電子產(chǎn)品、航天、航空、汽車、儀器儀表、電工產(chǎn)品以及各種電子元器件在高低溫和濕熱環(huán)境變化條件下的性能。

符合標(biāo)準(zhǔn)GB2423.1-2008/1EC6008-2-1-2007 

低溫試驗方法GB/T2423.2-2008 

高溫試驗方法GJB150.3A-2009 

高溫試驗方法GJB150.4A-2009 

低溫試驗方法GB2423.22-2008

 溫度變化速率試驗方法GBT2424.5-2006 

溫度試驗箱性能確認GB/T10586-2008 

低溫試驗箱技術(shù)條件GB/T2423.3-2008(1EC68-2-3) 

恒定濕熱試驗方法GJB150.9A-2009 

濕熱試驗方法G/BT2423.4-2008/1EC6008-2-30:2005 

交變濕熱方法GB/T5170.18-2005 

試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T10586-2006 

濕熱試驗箱技術(shù)條件GBT2424.6-2006 

溫度濕度鹽霧試驗機試驗箱性能確認GBT2424.7-2006 

(帶負載)溫度試驗箱測量部分參數(shù)舉報/反饋